扫描电镜SEM检测
————————————————————————————————————————————————————
扫描电子显微镜是目前常见的用于表面形貌观察的分析技术。具有高分辨率，较高的放大倍数；景深效果好，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；试样制备简单；配有X射线能谱仪装置，可同时进行形貌观察和微区成分分析。
通过扫描电子显微镜观察材料表面形貌，为研究样品形态结构提供了便利，有助于监控产品质量，改善工艺。
观察的主要内容是分析材料的几何形貌、材料的颗粒度、及颗粒度的分布、物相的结构等。
|   |
SEM电镜测试应用范围
————————————————————————————————————————————————————
主要用于复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、生物材料、电子材料等块体、片状、薄膜样品的微观形貌分析及其成份的定性、半定量分析。
（1）材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料。
（2）表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。
SEM扫描电镜检测示例
————————————————————————————————————————————————————
SEM/EDS设备展示
————————————————————————————————————————————————————
送样须知
————————————————————————————————————————————————————
粉末样品基本要求
（1）单颗粉末尺寸建议小于1μm；
（2）无磁性；
（3）以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪；
块状样品基本要求
（1）需要电解减薄或离子减薄，获得几十纳米的薄区才能观察；
（2）如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等机械方法制成粉末来观察；
（3）无磁性；
 | 
设立专业的实验室数十个，检测项目全
设立了无损检测、扫描电镜仪器分析、化学分析、物理分析、切片与金相测试，环境 可靠性测试等众多实验室，为您提供—站式材料检测，失效分析及检测报告。
|
| 
拥有价值千万进口检测设备，让产品检测/分析更高效 
24小时服务，让您的产品拥有更快的检测速度；为您解决产品在研发、生产、贸易过 程中产生与材料相关的各种问题，让您的产品更快的走进市场。
|
| 
配备10+年经验的硕博检测团队为您服务 
实验室以中科院自动化研究所、北京航天航空大学为依托，以具备丰富产业经验的本 地团队为主体，开展电子可靠性前沿基础研究、应用推广、失效分析、设计改善，提 升粤港澳大湾区电子产业可靠性水平。
|
您当前的位置： 
粤公网安备 44190002006902号
备案号： 粤ICP备2022048342 版权所有：广东省华南检测技术有限公司 Guangdong South China Testing Technology Co., LTD
