
扫描电镜SEM检测 | SEM-EDS分析 |
SEM-EDS分析(扫描电镜-能谱分析介绍)
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SEM-EDS分析结合了扫描电子显微镜(SEM)和能量色散X射线光谱(EDS)技术。 SEM通过高能电子束扫描样品表面,生成高分辨率的图像,揭示样品的微观形貌。 EDS则通过检测样品发射的特征X射线,确定其元素组成和相对含量。 两者结合,能够提供样品的详细形貌和化学成分信息。 | ![]() |
SEM扫描电镜检测示例
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EDS能谱分析示例
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SEM/EDS设备展示
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SEM-EDS分析服务
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微观形貌观察:高分辨率成像,揭示样品表面的细节。
元素成分分析:精确检测样品中的元素种类和含量。
缺陷与故障分析:识别材料中的缺陷和故障点,帮助改进工艺和产品质量。
SEM/EDS分析手段————————————————————————————————————————————————————
主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究,仪器的功能包括:
(1)电子衍射:选区衍射、微束衍射、会聚束衍射;
(2)成像:明场像(BF)、暗场像(DF)、衍射像、高分辨像(HREM)、扫描透射像,环角暗场像(HAADF);
(3)微区成分:EDS能谱的点、线和面分析;
SEM/EDS应用范围
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材料科学:研究材料的微观结构和成分,优化材料性能。
电子元件:检测电子元件的焊接质量和故障分析。
材料范围:除磁性材料之外的任何无机材料,包括粉体、薄膜和块材;不适用于有机和生物材料。
表征范围:微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、
晶界结构和组成等。
送样须知
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粉末样品基本要求
1、单颗粉末尺寸最好小于1μm;
2、无磁性;
3、以无机成分为主,否则会造成电镜严重的污染,高压跳掉,甚至击坏高压枪;
块状样品基本要求
1、需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;
2、如晶粒尺寸小于1μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察;
3、无磁性;
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