专注于工业CT检测\失效分析\材料检测分析的第三方实验室

公正高效 \ 精准可靠 \ 费用合理

首页>行业新闻快报
芯片开封的步骤和方法

芯片开封是指将封装在保护外壳中的集成电路芯片进行打开,以便进行进一步的检测、测试、焊接或其他处理。芯片通常采用封装技术,将脆弱且微小的集成电路芯片包裹在一个保护外壳内,以防止机械损坏、静电放电和环境污染等。当需要对芯片进行测试、修复、反向工程或其他操作时,就需要将其开封。

9.15hn.png

芯片开封的步骤

芯片开封的方法因封装类型而异。常见的芯片封装类型有塑料封装、陶瓷封装和金属封装等。开封过程中需要采取特殊的措施,以避免对芯片造成损坏。

在一般情况下,芯片开封的步骤包括:

清洁:将芯片外部的封装材料清除干净,以便后续操作。

热处理:使用加热设备将芯片暴露于高温环境中,以软化封装材料和粘合剂。

去除外壳:使用工具或化学方法,将芯片外壳轻松剥离。

清理残留物:清除剥离后可能残留在芯片表面的粘合剂、封装材料或其他污染物。

储存和保护:开封后的芯片需要妥善储存,并采取防静电措施,以防止损坏。

开封过程会对芯片造成一定的损伤风险,因此必须在特定环境下进行,并且应根据具体需求进行谨慎考虑。


芯片开封方法

芯片开封的方法因不同封装类型而有所差异。下面是一些常见的芯片开封方法:

①塑料封装芯片开封

    使用热风枪或热板将塑料封装加热至一定温度,软化封装材料。

    使用刀片或切割工具轻轻切割封装材料。

    注意避免对芯片本身造成机械损坏。

②陶瓷封装芯片开封

    使用高温炉将陶瓷封装进行退火,使封装材料变脆。

    使用钳子或切割工具将陶瓷封装的上部或四周切割或破碎。

    注意避免对芯片本身造成机械损坏,并小心处理可能产生的尖锐碎片。

③金属封装芯片开封

    使用特殊工具和技术,如焊接、砂轮切割等,将金属封装进行切割或破坏。

    注意避免对芯片本身造成机械损坏,并注意处理可能产生的尖锐碎片和金属粉尘。

华南检测技术专注工业CT 检测、失效分析、材料分析检测、芯片鉴定、芯片线路修改、晶圆微结构分析、可靠性检测、逆向工程、微纳米测量等专业技术测服务,欢迎前来咨询了解,客服咨询热线:13926867016。 

返回
列表
上一篇 芯片开封的原因以及步骤
下一篇 芯片开封的常用方法及其注意事项